覆合材料分层测厚仪

5MHz双晶窄脉冲探头

1.2～225.0mm

3.0～100.0mm

H＜10mm，±0.05mm；

H≥10mm，±(0.01+ 0.5%H)mm

标准

回波-回波

5MHz单晶接触探头

5.0～225.00mm

5.0～100.00mm

H＜10mm，±0.05 mm；

H≥10mm，±(0.01+ 0.5%H) mm

标准

回波-回波

2MHz双晶探头：

TSTU32

3.0～300.00mm

H＜10mm，±0.1 mm；

H≥10mm，±(0.01+1%H) mm

标准

1MHz单晶接触探头

10.0～500.00mm

H＜10mm，±0.1 mm；

H≥10mm，±(0.01+1%H) mm

标准

15MHz单晶延迟块探头

3.0mm～20.0mm

0.25mm～10.0mm

H＜10mm，±0.05 mm；

H≥10mm，±(0.01+ 0.5%H) mm

界面-回波

回波-回波

△ 声速调节范围

508 m/s～18699m/s

△ 重复性

遵守JJF1126

5M及以上探头重复性：0.03mm

2M及以下探头重复性：0.1mm

△ 探头参数

详见4.1-测量范围中的探头参数

△ 显示器

彩色TFT液晶显示器，320x240像素,5位显示，具有背光灯

△ 测量功能

高精密测量工具，适合测量金属、塑料、陶瓷、玻璃及其他任何超声波的良道导体。常规测量、最小厚度捕获、最大厚度捕获、差值、上下限LED报警。

△ 特殊材料测量

增益调节范围：0-99dB；屏蔽条：始脉冲-底波、界面波-底波、回波-回波模式均可调节。斜率：可调节至11。以上三个功能、组合使用，可测量各种特殊材料，比如含钼类不锈钢（316、317等）、玻璃钢、球化率极差的铸铁、灰铁等材质。

△ 设置锁定

对校准数据等进行锁定

△ 脉冲发生器

可调方波脉冲发生器

△ I/O端口

USB通讯

△ 发射电压

60V、110V、150V、200V可选

△ 发射脉宽

随探头频率改变

△ 增益范围

0-99dB，1dB步进

△ 频率范围

0.5 Mhz～20Mhz

△ 测量速率

标准(4Hz)、快速(20Hz)

△ 探头设置

10组固定探头设置和22组自定义探头设置

△ 数据存储

500个数据文件，每个可存储1000的测量值和波形

△ 使用环境温度

0℃～40℃

△ 电源

根据客户需求，可选：三节5号干电池 \ 镍氢充电电池

△ 工作语言

中文、英文

△ 功耗

工作电流不超过250mA（关闭WiFi，亮度暗， 4.5V下）

△ 外形尺寸

187mm×87 mm×43 mm

△ 外壳

耐冲击、防尘、仿溅，符合IP65

△ 重量

360g左右

△ 适用标准及规范

● Q/HD SDF0001-2014超声波测厚仪

● JJF 1126-2004超声波测厚仪校准规范

● GB/T 6587电子测量仪器通用规范

▲ 标准配置

●主机   ●进口5MHz单晶探头   ●耦合剂

▲ 可选配件

●标准试块   ●1MHz单晶接触探头   ●TSTU32 探头

●5MHz单晶接触探头   ●15MHz单晶带延迟块探头